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绝缘薄膜表面电荷的测量
发布时间:2015-03-10  人气:74  本文链接:www.dgkapton.com/cat-2/231.html

高压直流线路电晕放电时会产生大量的空间电荷,电荷会在线路下方的绝缘介质薄膜表面发生积累,经过一段时间后薄膜表面电荷会达到饱和。在实验初始,将PVC 塑料薄膜、遮阳网和布料3种绝缘介质模型放置在实验线路正下方,分别测量薄膜表面电荷密度达到饱和所需要的时间。确定薄膜表面电荷饱和时间之后,在薄膜电荷饱和状态下对比3 种介质薄膜的电荷面密度,并分析其荷电特性。

然后,通过对不同电压等级下薄膜表面电荷密度的测量,分析薄膜表面电荷密度与线路电压的关系。*后,通过移动薄膜的位置,测量直流导线下方不同位置的介质薄膜表面电荷密度的变化情况,分析获得薄膜表面电荷密度与距离线路远近的变化规律。

由于静电电荷易受环境因素的干扰,测量操作要求比较严格,在测量过程中保证轻拿轻放,薄膜模型无摩擦地放入法拉第筒,而且要保持介质模型距离金属体30 cm 以上,确保薄膜表面电荷不受影响。由于电晕放电具有随机性,在实验中采用了多次测量取平均的方式有效地减少了外界干扰带来的偶然误差,保证测量数据的有效性。