一般认为电晕对绝缘材料的损坏是一个缓慢的侵蚀过程，并*终导致产品完全失效，但经实验发现，电晕对绝缘材料介电性能的影响取决于其作用强度与作用时间，电晕的作用并不简单地表现为单调的破坏作用。

国内外学者针对无机纳米杂化聚酰亚胺进行了广泛研究，发现对聚酰亚胺进行纳米掺杂可以明显改善其耐电晕老化性能。但是，这种材料的耐电晕老化机理并不十分清楚。一般认为，这与无机纳米颗粒与聚酰亚胺之间形成的界面对电荷的输运和存储的影响密切相关。表征载流子陷阱是进一步澄清空间电荷在耐电晕老化中所起作用的基础。

热激电流(TSDC)是以常热率对材料进行加热，考察其电荷衰减，是研究固体材料中偶极松弛、陷阱结构、他们所控制的空间电荷的贮存和输运、以及聚合物松弛、转变和分子结构及运动的重要工具，是有效测量材料中的空间电荷密度、陷阱能级等参数的方法，他是当试样受到电场极化或其他激发后，去掉电场或激发源，逐渐加热样品使其从极化态转变到平衡态的过程中，在外电路中得到的电流，这种热激电流也称为热激退极化电流。